ПЭМ-125К — высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп для фундаментальных исследований. Позволяет исследовать микроструктуру и фазовый состав объектов в нанотехнологиях, материаловедении, кристаллографии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях, наблюдать и фотографировать изображение объектов в широком диапазоне увеличений, получать дифракционные картины, исследовать объекты при их наклоне и вращении с помощью гониометрического устройства.
Основные достоинства и особенности прибора:
- помехоустойчивая система управления прибором с использованием промышленного компьютера;
- высокое разрешение по кристаллической решетке и по точкам;
- высокое качество электронно-микроскопических изображений;
- наличие трех режимов работы: большой угол наклона объекта (БН), высокое разрешение (ВР), высокий контраст для медико-биологических объектов (ВК);
- высокая виброустойчивость;
- безмасляная откачка колонны;
- 4-х линзовый проекционный блок с компенсацией поворота изображения и микродифракционной картины;
- наличие вобблеров юстировки микроскопа и фокусировки изображения;
- полностью автоматизированная фоторегистрация электронно-микроскопических изображений на фотопленку размером 60×90 mm;
- отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
Параметры
Тип полюсного наконечника
БН
ВР
ВК
Разрешающая способность, nm
по кристаллической решетке
по точкам
0,2
0,37
0,14
0,35
0,34
0,45
Диапазон электронно-оптических
увеличений, ×
50 ... 1000000
31 ступень
50 ... 1300000
31 ступень
50 ... 800000
31 ступень
Максимальный угол наклона объекта
гониометром, °
±60
±15
±15
Ускоряющее напряжение, kV
со ступенями регулировки, kV