Микроскоп отсчетный МОО-100; МОМ-20; МОМ-40; МОО-50

Микроскопы отсчетные предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.